涂层测厚仪采用霍尔效应和电涡流效应原理,可以精准测量铁磁性金属基体上的非磁性涂镀层厚度,以及非磁性金属基体外表面的非导电涂层厚度,是一款铁铝两用的涂层测厚仪。下面介绍下涂层测厚仪五点校准教程
校准可以使用我们仪器自带的校准块,但我们建议工业的用户在无涂层的工件上进行校准,这样测量的数值才是最为精准的。
因为涂层测厚仪自带的校准块未必和你工件的材质100%相吻合。
下面开始教程:仪器开机状态下,按“左键”进入菜单,按“向下键”找到校准,按“左键”进入,在按向下键找到“五点校准”,再按“左键”开始五点校准。
涂层测厚仪提示我们测量无涂层基体,将仪器垂直紧压在基体上2秒后,抬起仪器,
会提示我们测量第一张膜片,我们找到数值约为50微米的膜片,进行测量,如果数值相同则不需要调整,如果数值偏大或偏小,我们就通过向上键或向下键将其调整与膜片数值一致,
然后我们测量第二种膜片,找到约为100微米膜片,进行测量调整,
然后测量第三张膜片,找到约为250微米进行测量调整,
完了在测量第四张,找到约为500微米的膜片进行测量调整,
最后第五张膜片是两张约为500微米的膜片进行叠加测量,并将测量数值调整至一致,即可完成五点校准。