X射线荧光测厚仪可用于测量一般工件、PCB及半导体产品的各镀层厚度全自动XYZ样品台;雷射自动对焦、自动对位;温度补偿;十字线自动调整五种report format可供选择
X射线测厚仪(XRF-2000)可用于测量一般工件、PCB及半导体产品的各镀层厚度全自动XYZ样品台,雷射自动对焦、自动对位;温度补偿;有竞争力的价格;五个准直器(0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05x0.3mm) XRF2000能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能*,而且价钱*,同比其他牌子相同配置的机器,XRF2000为您大大节省成本。