X射线荧光测厚仪可用于测量一般工件、PCB及半导体产品的各镀层厚度全自动XYZ样品台；雷射自动对焦、自动对位；温度补偿；十字线自动调整五种report format可供选择

金属镀层测厚仪可用于测量一般工件、PCB及半导体产品的各镀层厚度全自动XYZ样品台。

X射线测厚仪（XRF-2000）可用于测量一般工件、PCB及半导体产品的各镀层厚度全自动XYZ样品台，雷射自动对焦、自动对位；温度补偿；有竞争力的价格；五个准直器（0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05x0.3mm） XRF2000能提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能*，而且价钱*，同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。