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X射线测厚仪(XRF-2000)

简要描述:X射线测厚仪(XRF-2000)可用于测量一般工件、PCB及半导体产品的各镀层厚度全自动XYZ样品台,雷射自动对焦、自动对位;温度补偿;有竞争力的价格;五个准直器(0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05x0.3mm)
XRF2000能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能*,而且价钱*,同比其他牌子相同配置的机器,XRF2000为您大大节省成本。

  • 产品型号:XRF-2000
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2023-03-13
  • 访  问  量:3081
详情介绍


X射线测厚仪(XRF-2000

 

X射线测厚仪(XRF-2000)产品简介


X射线测厚仪(XRF-2000)可用于测量一般工件、PCB及半导体产品的各镀层厚度全自动XYZ样品台,雷射自动对焦、自动对位;温度补偿;有竞争力的价格;五个准直器(0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05x0.3mm

 

XRF-2000 X射线测厚仪镀层测厚仪测金机膜厚仪


  X-射线镀层测厚仪的特征:
  1.可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。
  2.可通过CCD摄像机来观察及选择微小面积以进行镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。
  3.备有250个以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。
  
  韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列

  (全新*)

  XRF2000能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能*,而且价钱*,同比其他牌子相同配置的机器,XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。超大/开放式的样品台,可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的*。可测量各类金属层、合金层厚度等。
  可测元素范围:钛(Ti铀(U)原子序 22–92.
  准直器:固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
  自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
  电脑系统:DELL品牌电脑,17寸液晶显示器,惠普彩色打印机
  综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液分析统计功能



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