X射线测厚仪（XRF-2000）

X射线测厚仪（XRF-2000）

X射线测厚仪（XRF-2000）产品简介

X射线测厚仪（XRF-2000）可用于测量一般工件、PCB及半导体产品的各镀层厚度全自动XYZ样品台，雷射自动对焦、自动对位；温度补偿；有竞争力的价格；五个准直器（0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05x0.3mm）

XRF-2000 X射线测厚仪镀层测厚仪测金机膜厚仪

　　X-射线镀层测厚仪的特征：
　　1.可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。
　　2.可通过CCD摄像机来观察及选择微小面积以进行镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。
　　3.备有250个以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。
　　
　　韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列

  （全新*）

　　XRF2000能提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越，而且价钱*，同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟，便能非破坏性地得到准确的测量结果，甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大／开放式的样品台，可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的*。可测量各类金属层、合金层厚度等。
　　可测元素范围：钛（Ti）–铀（U）原子序 22–92.
　　准直器：固定种类大小：可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
　　自动种类大小：可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
　　电脑系统：DELL品牌电脑，17寸液晶显示器，惠普彩色打印机
　　综合性能：镀层分析定性分析定量分析镀液分析统计功能