韩国 MicroPioneer X 射线荧光膜厚仪（XRF），是一款专注于镀层厚度测量与元素成分分析的专业检测设备，广泛应用于一般工件、线路板、五金电镀、半导体支架电镀、人造首饰、端子及电子元器件等领域。

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主要应用于一般工件、线路板、五金电镀、半导体支架电镀、人造首饰、端子及电子元器件等产品的各种镀层行业的一款仪器.测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可侦测元素的范围： Ti（22）~U（92 ）。

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