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X射线贵重金属镀层电镀厚度测厚仪

简要描述:X射线贵重金属镀层电镀厚度膜厚仪X射线贵重金属镀层电镀厚度测厚仪子及电子元器件等产品的各种镀层行业的一款仪器。

  • 产品型号:XRF-2000
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2023-03-15
  • 访  问  量:1189
详情介绍

X射线贵重金属镀层电镀厚度测厚仪,主要应用于一般工件、线路板、五金电镀、半导体支架电镀、人造首饰、端子及电子元器件等产品的各种镀层行业的一款仪器,全自动软件操作,多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台,是一款功能强大的仪器

 

现在市场上膜厚仪主要有:菲希尔(FISCHER), 精工(SII),韩国(MicroPioneer),牛津(CMI)。国产的有:三V仪器。在测量精度和性能上,国产的基本上是没用,只能摆着看。

 膜厚仪在稳定,故障率,和精度,方面来讲,只能说菲希尔(FISCHER)韩国(MicroPioneer),牛津(CMI)这四*是*。市场上占有率zui大的也是这四*,

四*主要用于五金电镀厂,钟表,端子,连接器,TED,卫浴,线路板,及一些复杂的电镀领域,如合金镀层,二元合金,三元合金,等多元合金

菲希尔(FISCHER)占有市场的30%,在测量精度,还是仪器稳定上来说都很不错。但由于价格高昂,维修,消耗品(如标准片,一片的价格可以买其他品牌的3片,且无法更换其他品牌的使用)虽然仪器精度高。稳定性好。但市场主要为早期所建立。

        精工(SII)主要对应大的日资企业,软件应用,相比菲希尔要麻烦一些。它所采用的是标准曲线法,来建立测量档案。所以需要大量的厚度不一的标准块。仪器稳定性和精度也还是不错的。不过有一点。日本原装的,比上海组装的要好。现在精工所销售的。大部份是上海组装的。品质相对的来说。会差一点。售后维修也是高昂,且中国人民也是反对日本货的。

       韩国(MicroPioneer)和牛津(CMI),  而牛津(CMI)因为配置是zui低端的配置如CMI900所以价格比较低,测量数据没有四年前进口机型稳定。zui主要的是故障率太高了,更换配件的成本很高。CMI也是用标准曲线法来建立测量档案的。也需要购买标准块,虽然价格低。但后期一但出现故障要更换配件。而且在对于合金镀层,和薄金。薄镍,等一些元素的测量上,那个误差大的相当离谱。甚至测不到。

       X射线贵重金属镀层电镀厚度测厚仪有高中低3个款型,测试的准直器也有1-5个可选,除了对复杂的电镀领域(如金厚度为0.01um以下)的不是很准确,其他镀层都可以测试达到标准,主要价格方面低过菲希尔(FISCHER), 精工(SII),牛津(CMI)许多,在每年的软件更新后和硬件的升级。也受到国内厂商的大力好评,如美的(美的顺德,武汉,重庆,合肥,芜湖,都以采购使用),比亚迪(2012投标以使用),富士康(2007年使用之今)等多个客户群。可以来电 深圳市瑞思远科技有限公司 索取使用客户资料。

     

 

产品介绍

是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分,可用於材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。

XRF-2000 系列分为以下叁种:

1. H-Type :密闭式样品室,方便测量的样品较大,高度约100mm以下。

2. L-Type : 密闭式样品室,方便测量 样品较小,高度约30mm以下。

3. PCB-Type : 开放式样品室,方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测

 

X射线贵重金属镀层电镀厚度膜厚仪应用

测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可侦测元素的范围: Ti(22)~U(92 )

 

行业

五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。

 

特色

非破坏,非接触式检测分析,快速精準。

可测量高达六层的镀层 (五层厚度   底材 ) 并可同时分析多种元素。

相容Microsoft微软作业系统之测量软体,操作方便,直接可用Office软体编辑报告

全系列*设计样品与光径自动对準系统。

标準配备: 溶液分析软体 ,可以分析电镀液成份与含量。

準直器口径多种选择,可根据样品大小来选择準值器的口径。

移动方式:全系列全自动载台电动控制,减少人为视差

*2D3D或任意位置表面量测分析。

雷射对焦,搭配彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。

标準ROI软体 搭配内建多种专业报告格式,亦可将数据、图形、统计等作成完整报告

光学2 0X 影像放大功能,更能精确对位。

单位选择: mils uin mm um

优於美製仪器的设计与零件可 靠度以及拥有价格与零件的*优势。

仪器正常使用保固期一年,强大的专业技术支援及良好的售后服务。

测试方法符合 ISO 3497 ASTM B568 DIN 50987

 

韩国Micro Pioneer 还推出一款元素分析及测厚两用的XRF-2000R型号

Micro Pioneer XRF-2000R X光镀层测厚仪及ROHS元素分析仪

是在XRF-2000系列测厚仪的基础上增加了元素分析及有害物质检测的功能,

其物点为:高分辨率,固态探测器; 可分析超薄样品

分析有害物质,元素分析分之 ppm - 100, 符合RoHS / WEEE标准测试以及ELV指令优化的应用;

可测量多层镀层厚度及锡铅成分分析;

电镀溶液分析;

定性分析超过30种元素,能够测量液体,固体,粉末,薄膜和不规则形状;

贵金属元素含量和分析(金,银,铂,和珠宝);

自动过滤器,多准直仪(五个准直器,从0.1mm-3.0mm)和全自动XYZ移动样品台;

性价比*的元素分析及镀层测厚双功能分析仪器

仪器尺寸:W610mm D670mm H490mm, 重量:75Kg (net)  

 

测厚仪,膜厚仪,X射线,XRF,韩国,微先锋,X荧光,镀层

 

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