膜厚仪标准片的选择取决于所测产物的结构

膜厚仪标准片采用了磁性测厚法：是一种超小型丈量仪，它能快速，无损伤，切确地进行铁磁性金属基体上的喷涂。电镀层厚度的丈量。可普遍用于制造业，金属加工业，化工业，商检等检测领域。出格适用于工程现场丈量。
膜厚仪标准片采用二次荧光法：它的原理是物资经X射线或粒子射线照射后，由于吸收过剩的能量而酿成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物资必需将过剩的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度丈量仪或成份分析仪的原理就是丈量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。
在生产进程中若何选择膜厚仪标准片呢？
首先取决于你所测产物的结构。若是只是简单的涂层，铜箔使用普通的膜厚仪就能够解决了。如：铜箔测厚仪，涂层测厚仪。
若是测电镀层的厚度，而且具有几层镀层，那末就要使用x-射线膜厚仪。单镀层厚度年夜于0.5um的还可以采用金相法观察。
膜厚仪标准片又叫膜厚计、膜厚测试仪，分为磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光x射线仪镀层测厚仪。采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。
膜厚仪标准片采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制测量信号。还采用设计的集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高（几乎达一个数量级）。
膜厚仪标准片可应用来测量钢铁表面的油漆层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，以及化工石油待业的各种防腐涂层。