X光测厚仪已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。X射线是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。X射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。
X光测厚仪的特点：
1、测量通过电脑软件进行操作，方便直观；
2、除平板形外，还可以测量圆形、棒形（细线）等各种形状；
3、可高精度测量其它方式不易测量的三层以上的镀层；
4、可对测量数据进行统计处理，并能输入电脑进行共同管理；
5、可制作非破坏式膜厚仪的标准板；
6、可检查非破坏式膜厚仪的测量精度；
7、本膜厚仪采用全对话式操作。因此，只要依照测量条件来进行设定就可测量，非常简单；
8、由于可储存不同的测量情况，不必进行重复设定；每种测量情况可储存多个数据；
9、可设定四层镀层，而每一层均可进行统计处理。电位图形可通过设定光标自动计算多层镍电位差及每层镍的厚度，可方便的作成各种格式的电子文档并打印。制作测量报告易学，易懂；
10、每种镀层所需的电解液、敏感度及搅动标准的选择，均可由微处理器自动判断、设定；
11、标准板校正值的计算和设定可自动进行；
12、由于分解速度差距分得很细，因此在保证测量精度的同时可大量节省测量时间；
13、可分离测量铜（合金）上的锡（合金）镀层间的扩散（合金）层；
14、测量台是利用条形弹簧方式，使操作方便简单。
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