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专业维修XRF-2000韩国测厚仪(Micro Pioneer)

简要描述:专业维修XRF-2000韩国测厚仪(Micro Pioneer),更换X光射线管,维修准直器,维护高压包,标准片建档,电脑软件升级等。瑞思远科技凭借多年的仪器销售经验及广大的客户群特设仪器设备工程部,有多名具有丰富经验 、职业道德良好的高级仪器维修工程师,竭力为广大的用户提供仪器设备的维修、保养。

  • 产品型号:XRF-2000-H
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2023-03-14
  • 访  问  量:1312
详情介绍

专业维修XRF-2000韩国测厚仪(Micro Pioneer),更换X光射线管,维修准直器,维护高压包,标准片建档,电脑软件升级等。

瑞思远科技凭借多年的仪器销售经验及广大的客户群特设仪器设备工程部,有多名具有丰富经验 、职业道德良好的高级仪器维修工程师,竭力为广大的用户提供仪器设备的维修、保养。我们以保证质量、价格合理、快捷交货"的服务宗旨,热情灵活的服务方式,赢得了广大用户的信任和好评。欢迎更多用户与我们达成仪器设备的维修与保养。共同发展,共创未来。



X光射线管


准直器


高压包


标准片建档




专业维修XRF-2000韩国测厚仪(Micro Pioneer)更换X光射线管,维修准直器,维护高压包,标准片建档,电脑软件升级等。


瑞思远科技凭借多年的仪器销售经验及广大的客户群特设仪器设备工程部,有多名具有丰富经验 、职业道德良好的高级仪器维修工程师,竭力为广大的用户提供仪器设备的维修、保养。我们以“保证质量、价格合理、快捷交货"的服务宗旨,热情灵活的服务方式,赢得了广大用户的信任和好评。欢迎更多用户与我们达成仪器设备的维修与保养。共同发展,共创未来。


产品介绍

X 萤光射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分,可用於材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。 

XRF-2000 系列分为以下叁种: 

1. H-Type :密闭式样品室,方便测量的样品较大,高度约100mm以下。 

2. L-Type : 密闭式样品室,方便测量 样品较小,高度约30mm以下。 

3. PCB-Type : 开放式样品室,方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测 。  


专业维修镀层测厚仪XRF-2000-H型应用

测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可侦测元素的范围: Ti(22)~U(92 )。  


行业

五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。


专业维修镀层测厚仪XRF-2000-H型特色

非破坏,非接触式检测分析,快速精準。

可测量高达六层的镀层 (五层厚度   底材 ) 并可同时分析多种元素。

相容Microsoft微软作业系统之测量软体,操作方便,直接可用Office软体编辑报告 。

全系列*设计样品与光径自动对準系统。

标準配备: 溶液分析软体 ,可以分析电镀液成份与含量。

準直器口径多种选择,可根据样品大小来选择準值器的口径。 

移动方式:全系列全自动载台电动控制,减少人为视差 。 

*2D与3D或任意位置表面量测分析。

雷射对焦,搭配彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。

标準ROI软体 搭配内建多种专业报告格式,亦可将数据、图形、统计等作成完整报告 。

光学2 0X 影像放大功能,更能精确对位。 

单位选择: mils 、 uin 、 mm 、 um 。

优於美製仪器的设计与零件可 靠度以及拥有价格与零件的*优势。 

仪器正常使用保固期一年,强大的专业技术支援及良好的售后服务。

测试方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。


韩国Micro Pioneer 还推出一款元素分析及测厚两用的XRF-2000R型号

Micro Pioneer XRF-2000R X光镀层测厚仪及ROHS元素分析仪

是在XRF-2000系列测厚仪的基础上增加了元素分析及有害物质检测的功能,

其物点为:高分辨率,固态探测器; 可分析超薄样品

分析有害物质,元素分析分之 ppm - 100%, 符合RoHS / WEEE标准测试以及ELV指令优化的应用;

可测量多层镀层厚度及锡铅成分分析;

电镀溶液分析;

定性分析超过30种元素,能够测量液体,固体,粉末,薄膜和不规则形状;

贵金属元素含量和分析(金,银,铂,和珠宝);

自动过滤器,多准直仪(五个准直器,从0.1mm-3.0mm)和全自动XYZ移动样品台;

性价比*的元素分析及镀层测厚双功能分析仪器

仪器尺寸:W610mmD670mmH490mm, 重量:75Kg(net)  


测厚仪,膜厚仪,X射线,XRF,韩国,微先锋,X荧光,镀层


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